Аннотация
Промоделирован квантовый транспорт в полупроводниковых гексагональных решетках антиточек с периодом 80 нм и коротковолновым беспорядком. Вычислены карты плотности состояний DoS как функции от напряженности магнитного поля B и концентрации электронов n (диаграммы Ванье) для нескольких амплитуд модуляции потенциала, сравнимых или существенно больше энергии Ферми. Глубокие провалы плотности состояний на картах имеют вид лучей положительного, нулевого и отрицательного наклона. Помимо веера лучей, разделяющих первый и второй, второй и третий уровни Ландау, на картах есть лучи им параллельные, сдвинутые по вертикали и горизонтали на целое число характерных значений концентрации n0 и магнитного поля B0. Показано, что знак и величина наклона лучей DoS соответствуют центрам плато квантованных холловских сопротивлений Rxy . Яркими проявлениями решетки на картах Rxy (n, B) являются реплики первого и второго плато Rxy и осцилляции Rxy между отрицательными и положительными значениями при фиксированном магнитном поле или концентрации, что говорит о смене дырочного и электронного типа носителей.
Переведенное название | Диаграммы Ванье для полупроводникового искусственного графена |
---|---|
Язык оригинала | английский |
Страницы (с-по) | 638-642 |
Число страниц | 5 |
Журнал | JETP Letters |
Том | 116 |
Номер выпуска | 9 |
DOI | |
Состояние | Опубликовано - нояб. 2022 |
Предметные области OECD FOS+WOS
- 1.03 ФИЗИЧЕСКИЕ НАУКИ И АСТРОНОМИЯ