The use of the internal standard in refining unit cell parameters of single crystals

Переведенное название: Использование внутреннего эталона при уточнении параметров элементарной ячейки монокристаллов

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатьярецензирование

Аннотация

Описана методика использования внутреннего эталона при уточнении параметров элементарной ячейки монокристаллов. Исследование проведено на монокристальных дифрактометрах Bruker, оборудованных трех- и четырехкружными гониометрами. В основе методики лежит подклеивание эталонного кристалла к изучаемому и дальнейшее определение ориентации каждого относительно осей гониометра. Далее следует вычисление углов для выведения определенных отражений на экваториальную плоскость и запись их профилей путем w-сканирования. Показано, что при использовании рефлексов с 2θ ≈ 80° процедура съемки и обработки экспериментальных фреймов позволяет проводить измерения межплоскостных расстояний с относительной ошибкой Δd/d ≈ 1·10-4.
Переведенное названиеИспользование внутреннего эталона при уточнении параметров элементарной ячейки монокристаллов
Язык оригиналаанглийский
Страницы (с-по)1231-1241
Число страниц11
ЖурналJournal of Structural Chemistry
Том63
Номер выпуска8
DOI
СостояниеОпубликовано - авг. 2022

Предметные области OECD FOS+WOS

  • 2.05 ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ
  • 1.04 ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ

Цитировать