The Nature of Defects Responsible for Transport in a Hafnia-Based Resistive Random Access Memory Element

D. R. Islamov, T. V. Perevalov, V. A. Gritsenko, V. Sh Aliev, A. A. Saraev, V. V. Kaichev, E. V. Ivanova, M. V. Zamoryanskaya, A. Chin

Результат исследования: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийглава/разделнаучнаярецензирование

1 Цитирования (Scopus)

Fingerprint

Подробные сведения о темах исследования «The Nature of Defects Responsible for Transport in a Hafnia-Based Resistive Random Access Memory Element». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Физика и астрономия