The effect of surface on conductivity of PbSnTe:IN/BaF2 topological crystalline insulator in space charge limited current regimes

Akimov Alexey Nikolaevich, Fedosenko Evgeny Vladimirovich, Klimov Aleksandr Eduardovich, Ishchenko Denis Vyacheslavovich, Paschin Nikolay Sergeevich, Tereshchenko Oleg Evgenievich, Sherstyakova Valentina Nikolaevna

Результат исследования: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаярецензирование

Аннотация

The effect of surface chemical treatment on current-voltage (IV) characteristics of high-resistance MBE-grown PbSnTe:In films in space charge limited current (SCLC) regimes has been studied. At T=4.2 K depending on surface chemical treatment the current in films in SCLC regimes under no illumination could rise up to 104 times and even more. The surface chemical treatment also affected both the value and behavior of the photocurrent. The qualitative model for the observed phenomena has been discussed.

Язык оригиналаанглийский
Название основной публикацииPhysics and Technology of Nanostructured Materials IV (Supplement Book)
РедакторыNikolay G. Galkin
ИздательTrans Tech Publications Ltd
Страницы3-9
Число страниц7
ISBN (печатное издание)9783035715682
DOI
СостояниеОпубликовано - 1 янв 2019
Событие4th Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials, ASCO-NANOMAT 2018 - Vladivostok, Российская Федерация
Продолжительность: 23 сен 201828 сен 2018

Серия публикаций

НазваниеKey Engineering Materials
Том806 KEM
ISSN (печатное издание)1013-9826
ISSN (электронное издание)1662-9795

Конференция

Конференция4th Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials, ASCO-NANOMAT 2018
СтранаРоссийская Федерация
ГородVladivostok
Период23.09.201828.09.2018

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «The effect of surface on conductivity of PbSnTe:IN/BaF2 topological crystalline insulator in space charge limited current regimes». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать