The dependence of surface morphology on the growth temperature of the Pb0.7Sn0.3Te/Si(111) topological insulator thin films

A. K. Kaveev, D. N. Bondarenko, O. E. Tereshchenko

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатья по материалам конференциирецензирование

Fingerprint

Подробные сведения о темах исследования «The dependence of surface morphology on the growth temperature of the Pb0.7Sn0.3Te/Si(111) topological insulator thin films». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Физика и астрономия