Study of Kinetics of Solid Phase Transition in Tetracosane С24Н50 by High-Resolution Synchrotron X-Ray Powder Diffraction

V. A. Marikhin, P. V. Dorovatovskii, Ya V. Zubavichus, M. V. Baidakova, E. M. Ivan’kova, L. P. Myasnikova

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатьярецензирование

Аннотация

Using the small-angle synchrotron X-ray diffraction method at the research facility “BELOK” of the Kurchatov synchrotron radiation source at the NRC Kurchatov Institute, it was shown that the first-order solid phase transition in tetracosane C24H50 passes according to a heterogeneous mechanism in a narrow temperature range ΔT ~ 1 K in accordance with the theory of diffuse phase transitions.

Язык оригиналаанглийский
Страницы (с-по)1128-1135
Число страниц8
ЖурналPhysics of the Solid State
Том61
Номер выпуска6
DOI
СостояниеОпубликовано - 1 июн 2019
Опубликовано для внешнего пользованияДа

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Study of Kinetics of Solid Phase Transition in Tetracosane С<sub>24</sub>Н<sub>50</sub> by High-Resolution Synchrotron X-Ray Powder Diffraction». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать