Secondary Electron and Negative-Ion Emission from Metal Surface under the Bombardment by Positive Ions (H+, Cl+, HCl+)

A. I. Chichinin, M. Poretskiy, C. Maul, K. H. Gericke

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Аннотация

A trap for positive ions (H+, Cl+, HCl+) is created within a time-of-flight mass spectrometer. The yields of secondary electrons and negative ions (HCl, H) formed due to forward and backward scattering of positive ions by steel wire at different kinetic energies (200–750 eV) are measured.

Язык оригиналаанглийский
Страницы (с-по)303-307
Число страниц5
ЖурналBulletin of the Lebedev Physics Institute
Том45
Номер выпуска10
DOI
СостояниеОпубликовано - 1 окт 2018

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Secondary Electron and Negative-Ion Emission from Metal Surface under the Bombardment by Positive Ions (H<sup>+</sup>, Cl<sup>+</sup>, HCl<sup>+</sup>)». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать