Reversible electrochemical modification of the surface of a semiconductor by an atomic-force microscope probe

A. S. Kozhukhov, D. V. Sheglov, A. V. Latyshev

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатья

2 Цитирования (Scopus)

Аннотация

A technique for reversible surface modification with an atomic-force-microscope (AFM) probe is suggested. In this method, no significant mechanical or topographic changes occur upon a local variation in the surface potential of a sample under the AFM probe. The method allows a controlled relative change in the ohmic resistance of a channel in a Hall bridge within the range 20–25%.

Язык оригиналаанглийский
Страницы (с-по)420-422
Число страниц3
ЖурналSemiconductors
Том51
Номер выпуска4
DOI
СостояниеОпубликовано - 1 апр 2017

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Reversible electrochemical modification of the surface of a semiconductor by an atomic-force microscope probe». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать