Raman scattering studies of low energy Ar+ ion implanted monocrystalline silicon for synchrotron applications
N. Kumar, V. A. Volodin, S. V. Goryainov, A. K. Chernyshev, A. T. Kozakov, A. A. Scrjabin, N. I. Chkhalo, M. S. Mikhailenko, A. E. Pestov, M. V. Zorina
Результат исследования: Научные публикации в периодических изданиях › статья › рецензирование
Fingerprint
Подробные сведения о темах исследования «Raman scattering studies of low energy Ar+ ion implanted monocrystalline silicon for synchrotron applications». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).