Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Precise sputtering of silicon dioxide by argon cluster ion beams». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).
- Сортировать по:
- Вес
- В алфавитном порядке
Precise sputtering of silicon dioxide by argon cluster ion beams
N. G. Korobeishchikov, I. V. Nikolaev, M. A. Roenko, V. V. Atuchin
Результат исследования: Научные публикации в периодических изданиях › статья › рецензирование
5
Цитирования
(Scopus)