On the accuracy of determining unit cell parameters of single crystals on modern laboratory diffractometers

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатьярецензирование

Аннотация

We propose a technique for the refinement of unit cell parameters (UCPs) using a single crystal diffractometer equipped with a flat-panel area detector. The technique is based on choosing Kα1 components of X-ray radiation when processing diffraction reflections. The capabilities of the technique are demonstrated on [NiEn3]MoO4 single crystals. In two independent experiments, the difference between 2θexp and 2θcalc did not exceed 0.02° while the reproducibility of unit cell parameters was at least 0.008 Å.

Язык оригиналаанглийский
Страницы (с-по)682-691
Число страниц10
ЖурналJournal of Structural Chemistry
Том62
Номер выпуска5
DOI
СостояниеОпубликовано - мая 2021

Предметные области OECD FOS+WOS

  • 2.05 ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ
  • 1.04 ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ

Цитировать