Observation of linear I-V curves on vertical GaAs nanowires with atomic force microscope

P. Geydt, P. A. Alekseev, M. Dunaevskiy, E. Lähderanta, T. Haggrén, J. P. Kakko, H. Lipsanen

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатья по материалам конференциирецензирование

2 Цитирования (Scopus)

Fingerprint

Подробные сведения о темах исследования «Observation of linear I-V curves on vertical GaAs nanowires with atomic force microscope». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Физика и астрономия