Nanoscale potential fluctuations and electron percolation in silicon oxide (SiOx, x = 1.4, 1.6)

V. A. Gritsenko, Yu N. Novikov, A. Chin

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатьярецензирование

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Nanoscale potential fluctuations and electron percolation in silicon oxide (SiO<sub>x</sub>, x = 1.4, 1.6)». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Химические соединения

Технические дисциплины и материаловедение