Micro-ellipsometry of square lattices of plasmonic nanodiscs on dielectric substrates and in metal-insulator-metal configurations

E. Bortchagovsky, C Simo, Ilya Milekhin, J Tang, Dietrich R.T. Zahn, M. Fleischer

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатьярецензирование

Аннотация

This article demonstrates the capability of imaging micro-ellipsometry in the investigation of ordered plasmonic nanostructures on different substrates. The difference of the resonances of similar square lattices of plasmonic nanoparticles on a dielectric substrate and in a metal-insulator-metal configuration is analyzed. The influence of the surface plasmon on interparticle interactions becomes clearly apparent. Comparison of the obtained data with dark-field scattering spectra proves the consistency of the measured results as well as the complementary information received from both methods.
Язык оригиналаанглийский
Номер статьи100172
Число страниц8
ЖурналMicro and Nano Engineering
Том18
DOI
СостояниеОпубликовано - апр. 2023
Опубликовано для внешнего пользованияДа

Предметные области OECD FOS+WOS

  • 2.05 ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ
  • 1.03 ФИЗИЧЕСКИЕ НАУКИ И АСТРОНОМИЯ

Fingerprint

Подробные сведения о темах исследования «Micro-ellipsometry of square lattices of plasmonic nanodiscs on dielectric substrates and in metal-insulator-metal configurations». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать