Mechanisms of enhanced electromagnetic emission in laboratory beam-plasma systems

I. V. Timofeev, V. V. Annenkov, E. P. Volchok

Результат исследования: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаярецензирование

Аннотация

Using analytical theory and particle-in-cell simulations, we study two mechanisms of electromagnetic emission which can result in enhanced radiation of electromagnetic waves near the plasma frequency and its second harmonic in laboratory beam-plasma experiments at the GOL-3T open trap. The first mechanism works in a thin rippled density plasma with the thickness comparable with the radiation wavelength while the second one is based on the linear mode conversion and requires large plasma sizes in comparison with the typical wavelength of plasma oscillations.

Язык оригиналаанглийский
Название основной публикацииOpen Magnetic Systems for Plasma Confinement, OS 2016
Подзаголовок основной публикацииProceedings of the 11th International Conference on Open Magnetic Systems for Plasma Confinement
РедакторыAleksey Arakcheev, Anton Sudnikov
ИздательAmerican Institute of Physics Inc.
ISBN (электронное издание)9780735414297
DOI
СостояниеОпубликовано - 11 окт. 2016
Событие11th International Conference on Open Magnetic Systems for Plasma Confinement, OS 2016 - Akademgorodok, Novosibirsk, Российская Федерация
Продолжительность: 8 авг. 201612 авг. 2016

Серия публикаций

НазваниеAIP Conference Proceedings
Том1771
ISSN (печатное издание)0094-243X
ISSN (электронное издание)1551-7616

Конференция

Конференция11th International Conference on Open Magnetic Systems for Plasma Confinement, OS 2016
Страна/TерриторияРоссийская Федерация
ГородAkademgorodok, Novosibirsk
Период08.08.201612.08.2016

Предметные области OECD FOS+WOS

  • 1.03 ФИЗИЧЕСКИЕ НАУКИ И АСТРОНОМИЯ

Fingerprint

Подробные сведения о темах исследования «Mechanisms of enhanced electromagnetic emission in laboratory beam-plasma systems». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать