Kelvin force and Raman microscopies of flat SiGe structures with different compositions grown on Si(111) at high temperatures

A. A. Shklyaev, L. Bolotov, V. Poborchii, T. Tada, K. N. Romanyuk

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатьярецензирование

2 Цитирования (Scopus)

Fingerprint

Подробные сведения о темах исследования «Kelvin force and Raman microscopies of flat SiGe structures with different compositions grown on Si(111) at high temperatures». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Технические дисциплины и материаловедение

Физика и астрономия

Химические соединения