In situ reflection electron microscopy for investigation of surface processes on Bi2Se3(0001)

S. A. Ponomarev, D. I. Rogilo, N. N. Kurus, L. S. Basalaeva, K. A. Kokh, A. G. Milekhin, D. V. Sheglov, A. V. Latyshev

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › рецензирование

Fingerprint