5 Цитирования (Scopus)

Аннотация

A procedure of the X-ray diffraction study of thin layers using a single crystal X-ray diffractometer equipped with a microfocus tube is described. It is demonstrated that α-cobalt phthalocyanine layers deposited by thermal vacuum evaporation onto polished surfaces of substrates (glass, quartz) have a perfectly oriented polycrystalline structure. The (00l) planes of all crystallites are oriented along the surface of the substrate. The structural organization of layers is analyzed.

Язык оригиналаанглийский
Страницы (с-по)618-621
Число страниц4
ЖурналJournal of Structural Chemistry
Том57
Номер выпуска3
DOI
СостояниеОпубликовано - 1 мая 2016

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Development of a procedure of X-ray study of thin layers by the example of cobalt phthalocyanine». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать