Determination of Young’s Modulus of Wurtzite III–V Nanowires by the Methods of Scanning Probe Microscopy

Переведенное название: Определение модуля Юнга вюрцитных нанопроводов AIIIBV методами сканирующей зондовой микроскопии

M. S. Dunaevskiy, P. A. Alekseev, P. Geydt, E. Lahderanta, T. Haggren, H. Lipsanen

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатьярецензирование

Аннотация

Разработан СЗМ-метод, позволяющий измерять модуль Юнга тонких и гибких нанопроводов, который заключается в измерении профилей прогиба в режиме прецизионного контроля силы. Этот метод достаточно универсален и может быть применен к любым тонким и гибким одномерным либо двумерным объектам. С помощью данного подхода удалось измерить модуль Юнга тонких конических нанопроводов InP с вюрцитной структурой и структурой цинковой обманки. Обнаружено, что нанопровода с вюрцитной структурой обладают более высоким модулем Юнга по сравнению с нанопроводами, содержащими чередование фаз “вюрцит−цинковая обманка”.
Переведенное названиеОпределение модуля Юнга вюрцитных нанопроводов AIIIBV методами сканирующей зондовой микроскопии
Язык оригиналаанглийский
Номер статьи9
Страницы (с-по)53-55
Число страниц3
ЖурналJournal of Surface Investigation
Том13
Номер выпуска1
DOI
СостояниеОпубликовано - 1 янв. 2019
Опубликовано для внешнего пользованияДа

Предметные области OECD FOS+WOS

  • 2.05 ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ
  • 1.03 ФИЗИЧЕСКИЕ НАУКИ И АСТРОНОМИЯ

ГРНТИ

  • 29 ФИЗИКА

Fingerprint

Подробные сведения о темах исследования «Определение модуля Юнга вюрцитных нанопроводов AIIIBV методами сканирующей зондовой микроскопии». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать