Deep laser cooling of Mg in dipole trap for frequency standard

Результат исследования: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаярецензирование

Аннотация

We study deep laser cooling of 24Mg atoms in dipole optical trap with pumping field resonant to narrow (3s3s)1S0 → (3s3p)3P1 (λ, = 457nm) optical transition. We consider two quantum models: the first one based on direct numerical solution of quantum kinetic equation for atom density matrix and the second one is simplified model based on decomposition of atom density matrix on vibration states in dipole trap. Both models shows close results. We search pumping field intensity and detuning for minimum laser cooling energy of atoms and fast laser cooling.

Язык оригиналаанглийский
Название основной публикации2017 Joint Conference of the European Frequency and Time Forum and IEEE International Frequency Control Symposium, EFTF/IFC 2017 - Proceedings
ИздательInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Страницы432-436
Число страниц5
ISBN (электронное издание)9781538629161
DOI
СостояниеОпубликовано - 27 окт 2017
Событие2017 Joint Conference of the European Frequency and Time Forum and IEEE International Frequency Control Symposium, EFTF/IFC 2017 - Besancon, Франция
Продолжительность: 9 июл 201713 июл 2017

Конференция

Конференция2017 Joint Conference of the European Frequency and Time Forum and IEEE International Frequency Control Symposium, EFTF/IFC 2017
СтранаФранция
ГородBesancon
Период09.07.201713.07.2017

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Deep laser cooling of Mg in dipole trap for frequency standard». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать

    Prudnikov, O. N., Taichenachev, A. V., Yudin, V. I., & Rasel, E. M. (2017). Deep laser cooling of Mg in dipole trap for frequency standard. В 2017 Joint Conference of the European Frequency and Time Forum and IEEE International Frequency Control Symposium, EFTF/IFC 2017 - Proceedings (стр. 432-436). [8088915] Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.. https://doi.org/10.1109/FCS.2017.8088915