Crystal Structures of New Chalcogenide- Containing Yttrium Orthosilicates Y2SiO4Q (Q = S, Se)

A. S. Kiryakov, D. A. Piryazev, M. S. Tarasenko, N. G. Naumov

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатья

1 Цитирования (Scopus)

Аннотация

Compounds Y2SiO4Q (Q = S, Se) are obtained by the interaction of oxides and elemental substances in cesium chloride flux. The structures of these compounds are determined by the single crystal XRD analysis. These compounds isostructural and crystallize in the space group Pbcm with the following parameters: Y2SiO4S (I) a = 6.0462(8) Å, b = 6.8976(9) Å, c = 10.6558(13) Å, V = 444.39(10) Å3; Y2SiO4Se (II) a = 5.9935(7) Å, b = 6.9216(8) Å, c = 10.7688(12) Å, V = 446.74(9) Å3. The measured fluxing points are 1650±15 °С for I and 1850±15 °С for II.

Язык оригиналаанглийский
Страницы (с-по)635-640
Число страниц6
ЖурналJournal of Structural Chemistry
Том59
Номер выпуска3
DOI
СостояниеОпубликовано - 1 мая 2018

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Crystal Structures of New Chalcogenide- Containing Yttrium Orthosilicates Y<sub>2</sub>SiO<sub>4</sub>Q (Q = S, Se)». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать