Conduction mechanisms of TaN/HfO x /Ni memristors

V. A. Voronkovskii, V. S. Aliev, A. K. Gerasimova, D. R. Islamov

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатьярецензирование

9 Цитирования (Scopus)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Conduction mechanisms of TaN/HfO <sub>x</sub> /Ni memristors». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Технические дисциплины и материаловедение

Химические соединения