Аннотация
Abstract: A design is proposed for a fourth-generation synchrotron beamline for investigating the structure and composition of a broad range of samples with high (submicron) spatial resolution.
Язык оригинала | английский |
---|---|
Страницы (с-по) | 180-183 |
Число страниц | 4 |
Журнал | Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics |
Том | 83 |
Номер выпуска | 2 |
DOI | |
Состояние | Опубликовано - 1 фев 2019 |