Atomic and electronic structures of the native defects responsible for the resistive effect in HfO2: ab initio simulations

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатьярецензирование

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Atomic and electronic structures of the native defects responsible for the resistive effect in HfO<sub>2</sub>: ab initio simulations». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Химические соединения

Технические дисциплины и материаловедение

Физика и астрономия

General

Chemistry and Materials

Physics