Аннотация

Solid solutions Mo1–xNbxS2 (x = 0, 0.05, 0.10, and 0.15) crystallizing in the hexagonal structure 2H-MoS2 are synthesized. The samples are characterized by powder X-ray diffraction (XRD) and Raman spectroscopies, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), and quantum chemical calculations (DFT). The changes occurring in the electronic properties of high-resistivity semiconductor MoS2 and indicating metallic behavior of obtained solid solutions Mo1–xNbxS2 are not accompanied by substantial changes in the atomic photoelectron spectra.

Язык оригиналаанглийский
Страницы (с-по)1833-1840
Число страниц8
ЖурналJournal of Structural Chemistry
Том59
Номер выпуска8
DOI
СостояниеОпубликовано - 1 дек 2018

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «An Xps Study of Solid Solutions Mo<sub>1–X</sub>Nb<sub>x</sub>S<sub>2</sub> (0 < x < 0.15)». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать

    Ledneva, A. Y., Dalmatova, S. A., Fedorenko, A. D., Asanov, I. P., Enyashin, A. N., Mazalov, L. N., & Fedorov, V. E. (2018). An Xps Study of Solid Solutions Mo1–XNbxS2 (0 < x < 0.15). Journal of Structural Chemistry, 59(8), 1833-1840. https://doi.org/10.1134/S0022476618080115