A 10 mA, steady-state, charge exchange negative ion beam source

I. Shikhovtsev, V. Amirov, K. Anikeeva, V. Davydenko, I. Emelev, A. Ivanov, V. Mishagin, V. Rashchenko, I. Maslakov, E. Shubin

Результат исследования: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаярецензирование

Аннотация

A negative ion source, which utilizes a conversion of primary high current proton beam into negative ions in a gas target via charge-exchange collisions, is under development in Budker Institute, Novosibirsk. The proposed beam will be used for injection into a tandem accelerator, which is a part of the neutron source dedicated for boron-neutron capture therapy (BNCT). The ion source is designed to produce a beam that contains ≥50% of molecular ions. The initial ion beam current is about 1 A at 30 keV energy. After molecular ion dissociation in a gas target, which produces protons with an energy of 15 keV, and further charge-exchange collisions, the beam after the target will contain about 2% of negative ion species with a current in excess of 10?mA. The negative ion beam is then separated by the magnetic field, accelerated up to an energy of 105 keV and enters the tandem accelerator. This paper presents the results of simulations of the beam formation, acceleration and transport. The arrangement of the ion source and corresponding high voltage power supply are also discussed.

Язык оригиналаанглийский
Название основной публикации7th International Symposium on Negative Ions, Beams and Sources, NIBS 2020
РедакторыYuri Belchenko, Dan Faircloth, Scott Lawrie, Olli Tarvainen, Motoi Wada
ИздательAmerican Institute of Physics Inc.
ISBN (электронное издание)9780735441095
DOI
СостояниеОпубликовано - 30 июл. 2021
Событие7th International Symposium on Negative Ions, Beams and Sources, NIBS 2020 - Oxford, Великобритания
Продолжительность: 1 сент. 202010 сент. 2020

Серия публикаций

НазваниеAIP Conference Proceedings
Том2373
ISSN (печатное издание)0094-243X
ISSN (электронное издание)1551-7616

Конференция

Конференция7th International Symposium on Negative Ions, Beams and Sources, NIBS 2020
Страна/TерриторияВеликобритания
ГородOxford
Период01.09.202010.09.2020

Предметные области OECD FOS+WOS

  • 1.03 ФИЗИЧЕСКИЕ НАУКИ И АСТРОНОМИЯ

Fingerprint

Подробные сведения о темах исследования «A 10 mA, steady-state, charge exchange negative ion beam source». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать