Аннотация
Изобретение относится к производству высококачественных оптических приборов, в частности к контролю качества обрабатываемых поверхностей оптических материалов как аморфных, так и монокристаллических. Предложен способ оперативного неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов без использования сложного измерительного оборудования, состоящий в том, что оценку качества приповерхностного слоя контролируемой поверхности осуществляют измерением угловой зависимости коэффициента отражения плоскополяризованного монохроматического луча от поверхности исследуемого образца вблизи угла Брюстера для данного материала и сопоставлением измеренной зависимости коэффициента отражения с зависимостью для контрольного образца (эталона) или с расчетной зависимостью для идеальной поверхности по положению минимума коэффициента отражения и соответствующего угла. Технический результат - оптимизация времени обработки, увеличение производительности и качества выпускаемой продукции.
Переведенное название | METHOD FOR NON-DESTRUCTIVE QUALITY CONTROL OF NEAR-SURFACE LAYER OF OPTICAL MATERIALS |
---|---|
Язык оригинала | русский |
Номер патента | 2703830 |
IPC | G01B11/30,G01B26/02 |
Дата приоритета | 29.03.2019 |
Состояние | Опубликовано - 22 окт 2019 |
Ключевые слова
- ОПТИЧЕСКИЙ МАТЕРИАЛ
- ПРИПОВЕРХНОСТНЫЙ ПОВРЕЖДЕННЫЙ СЛОЙ
- УГОЛ БРЮСТЕРА
- КОЭФФИЦИЕНТ ОТРАЖЕНИЯ
Предметные области OECD FOS+WOS
- 2.05 ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ
ГРНТИ
- 29.31.27 Взаимодействие оптического излучения с веществом
- 29.19.16 Физика тонких пленок. Поверхности и границы раздела
- 29.19.11 Дефекты кристаллической структуры