Способ неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов

Результат исследования: Патенты/Свидетельства о регистрациипатент на изобретение

Аннотация

Изобретение относится к производству высококачественных оптических приборов, в частности к контролю качества обрабатываемых поверхностей оптических материалов как аморфных, так и монокристаллических. Предложен способ оперативного неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов без использования сложного измерительного оборудования, состоящий в том, что оценку качества приповерхностного слоя контролируемой поверхности осуществляют измерением угловой зависимости коэффициента отражения плоскополяризованного монохроматического луча от поверхности исследуемого образца вблизи угла Брюстера для данного материала и сопоставлением измеренной зависимости коэффициента отражения с зависимостью для контрольного образца (эталона) или с расчетной зависимостью для идеальной поверхности по положению минимума коэффициента отражения и соответствующего угла. Технический результат - оптимизация времени обработки, увеличение производительности и качества выпускаемой продукции.
Переведенное названиеMETHOD FOR NON-DESTRUCTIVE QUALITY CONTROL OF NEAR-SURFACE LAYER OF OPTICAL MATERIALS
Язык оригиналарусский
Номер патента2703830
IPCG01B11/30,G01B26/02
Дата приоритета29.03.2019
СостояниеОпубликовано - 22 окт 2019

Предметные области OECD FOS+WOS

  • 2.05 ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ

Цитировать