Способ неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов

Изобретение относится к производству высококачественных оптических приборов, в частности к контролю качества обрабатываемых поверхностей оптических материалов как аморфных, так и монокристаллических. Предложен способ оперативного неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов без использования сложного измерительного оборудования, состоящий в том, что оценку качества приповерхностного слоя контролируемой поверхности осуществляют измерением угловой зависимости коэффициента отражения плоскополяризованного монохроматического луча от поверхности исследуемого образца вблизи угла Брюстера для данного материала и сопоставлением измеренной зависимости коэффициента отражения с зависимостью для контрольного образца (эталона) или с расчетной зависимостью для идеальной поверхности по положению минимума коэффициента отражения и соответствующего угла. Технический результат - оптимизация времени обработки, увеличение производительности и качества выпускаемой продукции.