A microscope image processing method for analyzing tlipss structures

Переведенное название: Метод обработки микроизображений для анализа структур ТЛИППС

Dmitrij Aleksandrovich Belousov, Alexander Vladimirovich Dostovalov, Victor Pavlovich Korolkov, Sergey Lvovich Mikerin

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Аннотация

В работе описан метод обработки микроизображений лазерно-индуцированных периодических поверхностных структур для количественной оценки их упорядоченности и дефектности. Приведены результаты его применения для анализа микроизображений периодических структур, сформированных на плёнках хрома толщиной 30 нм астигматически сфокусированным Гауссовым пучком фемтосекундного лазера. Получены зависимости относительной площади модифицированной этим пучком области, площади дефектов, а также упорядоченности периодических структур от скорости сканирования и мощности записывающего пучка
Переведенное названиеМетод обработки микроизображений для анализа структур ТЛИППС
Язык оригиналаанглийский
Страницы (с-по)936-945
Число страниц10
ЖурналComputer Optics
Том43
Номер выпуска6
DOI
СостояниеОпубликовано - 1 янв 2019

ГРНТИ

  • 29 ФИЗИКА

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Метод обработки микроизображений для анализа структур ТЛИППС». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать