Методика оперативного контроля ориентации кристаллографических осей в оптически прозрачных кристаллических образцах

Результат исследования: Патенты/Свидетельства о регистрациисвидетельство о регистрации ноу-хау

Аннотация

Описываемая методика является разновидностью оптической рефлектометрии и основана на определении угла Брюстера при различной ориентации падающего на поверхность прозрачных кристаллических материалов лазерного излучения. Для проведения измерений не требуется сложное измерительное оборудование или длительное время измерений. Тем самым методика позволяет оперативно определять (контролировать) расположение основных кристаллографических осей в полированных образцах различных оптических кристаллов.
Язык оригиналарусский
Номер патента26
Дата приоритета30.10.2018
Дата подачи заявки14.11.2018
СостояниеОпубликовано - 14 ноя 2018

Ключевые слова

  • ОПТИЧЕСКИЙ КРИСТАЛЛ
  • КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКАЯ ОСЬ
  • УГОЛ БРЮСТЕРА

Предметные области OECD FOS+WOS

  • 1.03.UI ФИЗИКА, МУЛЬТИДИСЦИПЛИНАРНАЯ
  • 2.05.PM МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ, МУЛЬТИДИСЦИПЛИНАРНОЕ
  • 2.1.NS НАНОНАУКА И НАНОТЕХНОЛОГИИ

ГРНТИ

  • 29.29.49 Атомные кластеры. Молекулярные кластеры
  • 30.51.15 Разреженный газ и молекулярная газовая динамика
  • 29.29.41 Взаимодействие атомов и молекул со средой

Цитировать