Atomic Structure and Optical Properties of CaSi2 Layers Grown on CaF2/Si Substrates

Переведенное название: Атомная структура и оптические свойства слоев CaSi2, выращенных на CaF2/Si-подложках

V. A. Zinovyev, A. V. Kacyuba, V. A. Volodin, A. F. Zinovieva, S. G. Cherkova, Zh V. Smagina, A. V. Dvurechenskii, A. Y. Krupin, O. M. Borodavchenko, V. D. Zhivulko, A. V. Mudryi

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатьярецензирование

Аннотация

Проведено исследование особенностей роста, а также структурных и оптических свойств слоев CaSi2, сформированных в процессе последовательного осаждения Si и CaF2 на подложку Si(111) при одновременном облучении пучком быстрых электронов. Спектры комбинационного рассеяния света, снятые в областях воздействия электронным пучком, продемонстрировали пики, характерные для кристаллических слоев CaSi2. Исследование морфологии поверхности сформированных структур показало, что в выбранных условиях синтез слоев CaSi2 при электронном облучении происходит по двумерно-слоевому механизму. Спектры фотолюминесценции, измеренные в областях, модифицированных электронным пучком, имеют существенные отличия от спектров, снятых вне области электронного облучения. Ключевые слова: силициды кальция, фторид кальция, молекулярно-лучевая эпитаксия, электронное облучение, атомная структура, фотолюминесценция.
Переведенное названиеАтомная структура и оптические свойства слоев CaSi2, выращенных на CaF2/Si-подложках
Язык оригиналаанглийский
Страницы (с-по)808-811
Число страниц4
ЖурналSemiconductors
Том55
Номер выпуска10
DOI
СостояниеОпубликовано - окт. 2021

Предметные области OECD FOS+WOS

  • 2.05 ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ
  • 1.03 ФИЗИЧЕСКИЕ НАУКИ И АСТРОНОМИЯ

Fingerprint

Подробные сведения о темах исследования «Атомная структура и оптические свойства слоев CaSi2, выращенных на CaF2/Si-подложках». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать