Швец Василий Александрович

Доктор физико-математических наук

20172020

Research output per year

Если Вы внесли какие-либо изменения в Pure, они скоро будут видимы здесь.

Fingerprint Узнайте самые подробные результаты анализа активности Василий Александрович Швец. Указанные в этом разделе метки относятся к работам этого человека. Вместе они формируют уникальную картину активности.

  • 6 Аналогичные профили

Сеть Последние внешние коллаборации на уровне страны. Узнайте подробнее, нажав точки.

Результат исследований

  • 9 статья
  • 1 статья по материалам конференции

Interface Studies in HgTe/HgCdTe Quantum Wells

Mikhailov, N., Shvets, V., Ikusov, D., Uzhakov, I., Dvoretsky, S., Mynbaev, K., Dluzewski, P., Morgiel, J., Swiatek, Z., Bonchyk, O. & Izhnin, I., 11 фев 2020, В : Physica Status Solidi (B) Basic Research. 5 стр., 1900598.

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатья

  • An Ellipsometric Technique with an ATR Module and a Monochromatic Source of Radiation for Measurement of Optical Constants of Liquids in the Terahertz Range

    Azarov, I. A., Choporova, Y. Y., Shvets, V. A. & Knyazev, B. A., 1 фев 2019, В : Journal of Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves. 40, 2, стр. 200-209 10 стр.

    Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатья

  • 2 Цитирования (Scopus)

    Determining the Compositional Profile of HgTe/Cd xHg1 – xTe Quantum Wells by Single-Wavelength Ellipsometry

    Shvets, V. A., Mikhailov, N. N., Ikusov, D. G., Uzhakov, I. N. & Dvoretskii, S. A., 1 авг 2019, В : Optics and Spectroscopy. 127, 2, стр. 340-346 7 стр.

    Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатья

  • 1 Цитирования (Scopus)

    Ellipsometric Method for Measuring the CdTe Buffer-Layer Temperature in the Molecular-Beam Epitaxy of CdHgTe

    Shvets, V. A., Azarov, I. A., Marin, D. V., Yakushev, M. V. & Rykhlitsky, S. V., 1 янв 2019, В : Semiconductors. 53, 1, стр. 132-137 6 стр.

    Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатья

  • Ellipsometric Method of Substrate Temperature Measurement in Low-Temperature Processes of Epitaxy of InSb Layers

    Shvets, V. A., Azarov, I. A., Rykhlitskii, S. V. & Toropov, A. I., 1 янв 2019, В : Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 55, 1, стр. 8-15 8 стр.

    Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатья