Нет фото Василий Александрович Швец

Швец Василий Александрович

Доктор физико-математических наук

20172020

Результат исследований по году

Если Вы внесли какие-либо изменения в Pure, они скоро будут видимы здесь.

Fingerprint Узнайте самые подробные результаты анализа активности Василий Александрович Швец. Указанные в этом разделе метки относятся к работам этого человека. Вместе они формируют уникальную картину активности.

  • 6 Аналогичные профили

Сеть Последние внешние коллаборации на уровне страны. Узнайте подробнее, нажав точки.

Результат исследований

  • 10 статья
  • 1 статья по материалам конференции

A Mask Based on a Si Epitaxial Layer for the Self-Catalytic Nanowire Growth on GaAs(111)B and GaAs(100) Substrates

Emelyanov, E. A., Nastovjak, A. G., Petrushkov, M. O., Esin, M. Y., Gavrilova, T. A., Putyato, M. A., Schwartz, N. L., Shvets, V. A., Vasev, A. V., Semyagin, B. R. & Preobrazhenskii, V. V., 1 фев 2020, В : Technical Physics Letters. 46, 2, стр. 161-164 4 стр.

Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатья

  • Interface Studies in HgTe/HgCdTe Quantum Wells

    Mikhailov, N., Shvets, V., Ikusov, D., Uzhakov, I., Dvoretsky, S., Mynbaev, K., Dluzewski, P., Morgiel, J., Swiatek, Z., Bonchyk, O. & Izhnin, I., 1 мая 2020, В : Physica Status Solidi (B) Basic Research. 257, 5, 5 стр., 1900598.

    Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатья

  • 2 Цитирования (Scopus)

    An Ellipsometric Technique with an ATR Module and a Monochromatic Source of Radiation for Measurement of Optical Constants of Liquids in the Terahertz Range

    Azarov, I. A., Choporova, Y. Y., Shvets, V. A. & Knyazev, B. A., 1 фев 2019, В : Journal of Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves. 40, 2, стр. 200-209 10 стр.

    Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатья

  • 2 Цитирования (Scopus)

    Determining the Compositional Profile of HgTe/Cd xHg1 – xTe Quantum Wells by Single-Wavelength Ellipsometry

    Shvets, V. A., Mikhailov, N. N., Ikusov, D. G., Uzhakov, I. N. & Dvoretskii, S. A., 1 авг 2019, В : Optics and Spectroscopy. 127, 2, стр. 340-346 7 стр.

    Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатья

  • 5 Цитирования (Scopus)

    Ellipsometric Method for Measuring the CdTe Buffer-Layer Temperature in the Molecular-Beam Epitaxy of CdHgTe

    Shvets, V. A., Azarov, I. A., Marin, D. V., Yakushev, M. V. & Rykhlitsky, S. V., 1 янв 2019, В : Semiconductors. 53, 1, стр. 132-137 6 стр.

    Результат исследования: Научные публикации в периодических изданияхстатья