Способ неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов

Translated title of the contribution: METHOD FOR NON-DESTRUCTIVE QUALITY CONTROL OF NEAR-SURFACE LAYER OF OPTICAL MATERIALS

Research output: Patent

2 Downloads (Pure)

Abstract

Изобретение относится к производству высококачественных оптических приборов, в частности к контролю качества обрабатываемых поверхностей оптических материалов как аморфных, так и монокристаллических. Предложен способ оперативного неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов без использования сложного измерительного оборудования, состоящий в том, что оценку качества приповерхностного слоя контролируемой поверхности осуществляют измерением угловой зависимости коэффициента отражения плоскополяризованного монохроматического луча от поверхности исследуемого образца вблизи угла Брюстера для данного материала и сопоставлением измеренной зависимости коэффициента отражения с зависимостью для контрольного образца (эталона) или с расчетной зависимостью для идеальной поверхности по положению минимума коэффициента отражения и соответствующего угла. Технический результат - оптимизация времени обработки, увеличение производительности и качества выпускаемой продукции.
Translated title of the contributionMETHOD FOR NON-DESTRUCTIVE QUALITY CONTROL OF NEAR-SURFACE LAYER OF OPTICAL MATERIALS
Original languageRussian
Patent number2703830
IPCG01B11/30,G01B26/02
Priority date29.03.2019
Publication statusPublished - 22 Oct 2019

OECD FOS+WOS

  • 2.05 MATERIALS ENGINEERING

State classification of scientific and technological information

  • 29.31.27 Interaction of optical radiation with matter
  • 29.19.16 Physics of thin films. Surface and interface
  • 29.19.11 Defects of the crystal structure

Cite this