Abstract
С помощью программного модуля обеспечивается выявление периодического мотива области электронно-микроскопического изображения и определение усредненного реального параметра периодичности при известном размере пикселя исходного изображения. Программный модуль интегрируется в программу управления цифровой камеры микроскопа DigitalMicrograph и состоит из двух программных компонентов: построение Фурье-изображение от выделенной области реального изображения (Diffractogram); определение параметра реального периодического мотива с области Фурье-изображения (Spacing). Визуализация кристаллической решетки является важнейший информацией из данных, получаемых методами просвечивающей электронной микроскопии. ОС: Windows XP/7/8/10.
| Original language | Russian |
|---|---|
| Patent number | 2021680403 |
| Priority date | 29.11.2021 |
| Publication status | Published - 9 Dec 2021 |
State classification of scientific and technological information
- 29.19.04 Structure of solids
- 29.19.19 Methods of investigation of crystal structure and lattice dynamics
- 31.15.17 Crystal Chemistry and crystallography
- 31.15.19 Chemistry of solids
- 20.53.19 Processing and information retrieval