Методика оперативного контроля ориентации кристаллографических осей в оптически прозрачных кристаллических образцах

Research output: PatentKnow-how

Abstract

Описываемая методика является разновидностью оптической рефлектометрии и основана на определении угла Брюстера при различной ориентации падающего на поверхность прозрачных кристаллических материалов лазерного излучения. Для проведения измерений не требуется сложное измерительное оборудование или длительное время измерений. Тем самым методика позволяет оперативно определять (контролировать) расположение основных кристаллографических осей в полированных образцах различных оптических кристаллов.
Original languageRussian
Patent number26
Priority date30.10.2018
Publication statusPublished - 14 Nov 2018

OECD FOS+WOS

  • 1.03.UI PHYSICS, MULTIDISCIPLINARY
  • 2.05.PM MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY
  • 2.1.NS NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY

State classification of scientific and technological information

  • 29.29.49 Atomic clusters. Molecular clusters
  • 30.51.15 Rarefied gas dynamics and molecular gas
  • 29.29.41 Interaction of atoms and molecules with the environment

Cite this